加工精度是加工后零件表面的實際尺寸、形狀、位置三種幾何參數與圖紙要求的理想幾何參數的符合程度。理想的幾何參數,對尺寸而言,就是平均尺寸;對表面幾何形狀而言,就是絕對的圓、圓柱、平面、錐面和直線等;對表面之間的相互位置而言,就是絕對的平行、垂直、同軸、對稱等。零件實際幾何參數與理想幾何參數的偏離數值稱為加工誤差。
1、加工精度的概念
加工精度主要用于生產產品程度,加工精度與加工誤差都是評價加工表面幾何參數的術語。加工精度用公差等級衡量,等級值越小,其精度越高;加工誤差用數值表示,數值越大,其誤差越大。加工精度高,就是加工誤差小,反之亦然。
公差等級從IT01,IT0,IT1,IT2,IT3至IT18一共有20個,其中IT01表示的話該零件加工精度最高的,IT18表示的話該零件加工精度是最低的,一般上IT7、IT8是加工精度中等級別。
任何加工方法所得到的實際參數都不會絕對準確,從零件的功能看,只要加工誤差在零件圖要求的公差范圍內,就認為保證了加工精度。
機器的質量取決于零件的加工質量和機器的裝配質量,零件加工質量包含零件加工精度和表面質量兩大部分。
機械加工精度是指零件加工后的實際幾何參數(尺寸、形狀和位置)與理想幾何參數相符合的程度。它們之間的差異稱為加工誤差。加工誤差的大小反映了加工精度的高低。誤差越大加工精度越低,誤差越小加工精度越高。
2、加工精度的相關內容
(1)尺寸精度
指加工后零件的實際尺寸與零件尺寸的公差帶中心的相符合程度。
(2)形狀精度
指加工后的零件表面的實際幾何形狀與理想的幾何形狀的相符合程度。
(3)位置精度
指加工后零件有關表面之間的實際位置精度差別。
(4)相互關系
通常在設計機器零件及規定零件加工精度時,應注意將形狀誤差控制在位置公差內,位置誤差又應小于尺寸公差。即精密零件或零件重要表面,其形狀精度要求應高于位置精度要求,位置精度要求應高于尺寸精度要求。
3、調整方法
(1)對工藝系統進行調整
(2)減小機床誤差
(3)減少傳動鏈傳動誤差
(4)減小刀具磨損
(5)減小工藝系統的受力變形
(6)減小工藝系統熱變形
(7)減少殘余應力
4、影響原因
(1)加工原理誤差
加工原理誤差是指采用了近似的刀刃輪廓或近似的傳動關系進行加工而產生的誤差。加工原理誤差多出現于螺紋、齒輪、復雜曲面加工中。
在加工中,一般采用近似加工,在理論誤差可以滿足加工精度要求的前提下,來提高生產率和經濟性。
(2)調整誤差
機床的調整誤差是指由于調整不準確而產生的誤差。
(3)機床誤差
機床誤差是指機床的制造誤差、安裝誤差和磨損。主要包括機床導軌導向誤差、機床主軸回轉誤差、機床傳動鏈的傳動誤差。
5、測量方法
加工精度根據不同的加工精度內容以及精度要求,采用不同的測量方法。一般來說有以下幾類方法:
(1)按是否直接測量被測參數,可分為直接測量和間接測量。
直接測量:直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。
間接測量:測量與被測尺寸有關的幾何參數,經過計算獲得被測尺寸。
顯然,直接測量比較直觀,間接測量比較繁瑣。一般當被測尺寸或用直接測量達不到精度要求時,就不得不采用間接測量。
(2)按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值,可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量:讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量:讀數值只表示被測尺寸相對于標準量的偏差。如用比較儀測量軸的直徑,需先用量塊調整好儀器的零位,然后進行測量,測得值是被側軸的直徑相對于量塊尺寸的差值,這就是相對測量。一般說來相對測量的精度比較高些,但測量比較麻煩。
(3)按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸,分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量:測量頭與被接觸表面接觸,并有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量:測量頭不與被測零件表面相接觸,非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。
(4)按一次測量參數的多少,分為單項測量和綜合測量。
單項測量:對被測零件的每個參數分別單獨測量。
綜合測量:測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時,可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半角誤差和螺距累積誤差等。
綜合測量一般效率比較高,對保證零件的互換性更為可靠,常用于完工零件的檢驗。單項測量能分別確定每一參數的誤差,一般用于工藝分析、工序檢驗及被指定參數的測量。
(5)按測量在加工過程中所起的作用,分為主動測量和被動測量。
主動測量:工件在加工過程中進行測量,其結果直接用來控制零件的加工過程,從而及時防治廢品的產生。
被動測量:工件加工后進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格,僅限于發現并剔除廢品。
(6)按被測零件在測量過程中所處的狀態,分為靜態測量和動態測量。
靜態測量:測量相對靜止。如千分尺測量直徑。
動態測量:測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。
動態測量方法能反映出零件接近使用狀態下的情況,是測量技術的發展方向。